PCBA常見故障原因排查
- 發表時間:2025-03-19 09:07:48
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PCBA(Printed Circuit Board Assembly,印刷電路板組件)故障排查需要結合硬件、軟件及生產流程綜合分析。以下是常見故障原因及系統性排查方法,按優先級和常見性排序:
一、常見故障原因分類
焊接缺陷
虛焊、冷焊、焊點短路、焊錫過多或不足
BGA/QFN等封裝器件焊接不良
元件失效
電阻/電容老化、IC損壞、二極管/三極管擊穿
敏感元件(如晶振、傳感器)性能漂移
設計缺陷
PCB布局不合理(如電源/地線過細、信號串擾)
元件選型錯誤(如電壓/電流不匹配)
電源問題
電壓不穩定、紋波過大、電源模塊損壞
供電時序異常(如FPGA/MCU上電順序錯誤)
環境因素
高溫/潮濕導致元件失效或腐蝕
靜電放電(ESD)損傷敏感器件
機械損傷
PCB彎曲、焊點開裂、連接器松動
軟件/固件問題
程序邏輯錯誤、配置參數錯誤、Bootloader損壞
測試疏漏
ICT/FCT測試覆蓋率不足,未檢出潛在缺陷
人為操作錯誤
元件方向貼反、型號誤用、調試時誤操作
二、系統性排查步驟
1. 外觀檢查
觀察重點:
是否有燒焦痕跡、膨脹電容、爆裂元件
PCB是否變形、焊點是否開裂
連接器/插座是否松動或氧化
工具輔助:
顯微鏡或放大鏡觀察焊點
熱成像儀檢測異常發熱區域
2. 電源檢測
測試項:
輸入電壓是否在規格范圍內
關鍵電源節點(如DC-DC輸出、LDO輸出)電壓是否正常
電源紋波是否超標(尤其是模擬電路部分)
工具:
萬用表、示波器、電源分析儀
3. 信號檢測
關鍵信號:
時鐘信號(晶振、PLL輸出)
復位信號(是否異常復位)
關鍵通信總線(I2C/SPI/UART波形)
工具:
邏輯分析儀、示波器
4. 元件級測試
電阻/電容:
測量實際值與標稱值偏差(注意容差范圍)
半導體器件:
二極管/三極管:正向壓降、反向漏電流
IC:供電引腳電壓、關鍵信號引腳狀態
敏感元件:
晶振:用頻譜儀檢測輸出頻率
傳感器:模擬輸出或數字通信是否正常
5. 邊界條件測試
極端環境模擬:
高溫/低溫運行測試
電源拉偏測試(±5%~10%)
振動/沖擊測試(模擬運輸或使用場景)
6. 軟件/固件驗證
檢查項:
Bootloader是否完整
程序版本是否與硬件匹配
寄存器配置、中斷服務程序是否正常
工具:
JTAG/SWD調試器、邏輯分析儀抓取總線數據
7. 設計回退分析
對比驗證:
檢查PCB設計文件(Gerber、BOM)與實際硬件是否一致
回顧設計變更記錄(ECR/ECN)是否遺漏關鍵更新
三、預防與改進建議
生產端:
優化焊接工藝(如回流焊溫度曲線)
引入AOI(自動光學檢測)和AXI(X射線檢測)
設計端:
增加保護電路(如TVS管防ESD、電源濾波)
關鍵信號線做阻抗匹配和屏蔽處理
測試端:
完善ICT(針床測試)覆蓋關鍵節點
開發邊界掃描測試(JTAG)方案
環境控制:
倉儲和使用環境符合IPC標準(溫度25±5℃/濕度40%~60%RH)
使用防靜電包裝和周轉容器
四、快速定位技巧
分塊隔離法:逐步斷開功能模塊,定位故障區域
對比法:用已知良品板對比關鍵信號
歷史數據法:查詢同類故障案例庫(如CAPAR系統)
熱敏貼紙法:檢測異常發熱元件(適用于間歇性故障)
通過結合以上方法,可顯著提升PCBA故障排查效率。若問題復雜,建議結合失效分析(FA)實驗室的深度分析(如X-Ray、SEM斷面掃描)。
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